1. (2021高二上·杭州期中) 为甄选合格电子元器件，电子元器件在出厂前必须进行多项技术试验。如气候试验：密封性试验、温度循环试验、热冲击试验、气压试验、潮热试验、盐雾试验；机械试验：振动试验、冲击试验、离心试验、碰撞试验、跌落试验；长期寿命试验：1000小时以上的试验时间；可靠性筛选试验：采用外加应力将电子元件成品中潜在的早期失效产品剔除，从而分选出具有高可靠性产品。以上描述中没有涉及的试验方法是 （     ）